24 октября 2024 новость Сегодня, 24 октября с 11:00 до 13:00, на финальном дне выставки Testing&Control состоится ключевое событие – тематическая сессия «Метрология в эпоху цифровизации: новые вызовы в технологической области». Это уникальная возможность узнать, как современные цифровые решения меняют подходы к метрологии и измерениям. Сессия охватит важнейшие вопросы: Автоматизация и цифровизация метрологических служб. Сергей Ребрушкин (генеральный директор «Палитра-Систем») поделится лучшими практиками и новыми программными продуктами, которые позволяют оптимизировать работу метрологов. Современные телеметрические решения. Никита Филимонов (ФАУ «ЦАГИ») расскажет о телеметрических системах для испытаний авиационной техники, которые обеспечивают высокую точность данных. Решения 1С для контроля качества. Екатерина Ларина («1С:Апрель Софт») представит линейку продуктов, повышающих эффективность управления качеством и производственными процессами. Интеллектуальные системы дефектоскопии. Марина Шигина («МИРП-ИС») поделится опытом проведения метрологических исследований при разработке интеллектуальных систем для дефектоскопии. Импортозамещение и перспективные измерительные технологии. Кирилл Епифанцев (ИФПТИ ГУАП) расскажет о развитии отечественных приборов для бесконтактных измерений и будущих направлениях в этой области. 🎤 Модератор: Кирилл Бычков, шеф-редактор журнала «Главный метролог», задаст вектор обсуждения и поможет раскрыть актуальные вызовы цифровой эпохи. Почему это важно? Переход к цифровым технологиям в метрологии уже стал неотъемлемой частью производственных процессов. Посещение этой сессии поможет вам лучше понять, как использовать новые подходы для повышения точности измерений, сокращения затрат и улучшения качества продукции. ⏳ Время ограничено – успейте посетить! Завершающий день выставки Testing&Control – ваш шанс получить ценные знания и познакомиться с новейшими решениями для цифровизации и автоматизации. Посетите конференцию с билетом по промокоду tcnews24.