15-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control
23–25 октября 2018 • Москва, Крокус Экспо

Новости

новость

Компания Диполь представляет новую испытательную систему TESEQ для оценки устойчивости к низкочастотным кондуктивным помехам

Teseq представляет новую испытательную систему, которая удовлетворяет актуальным требованиям к испытательному оборудованию, предназначенному для оценки устойчивости технических средств к низкочастотным кондуктивным помехам в частотном диапазоне от 15 Гц до 150 кГц. Система NSG 4060 соответствует действующим стандартам по испытаниям, в том числе EN 61326-3-1, IEC 61850-3, IEC 60255-22-7, IEC 60533/IEC 60945, IEC 61000-4-16 и IEC 61000-4-19.

новость

Опубликован фоторепортаж выставки Testing&Control 2015

Представляем Вашему вниманию фоторепортаж с 12-й Международной выставки испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control, которая прошла с 27 по 29 октября 2015 года в Москве, МВЦ «Крокус Экспо».

новость

Выставка Testing & Control открыта. Ключевые события 2 дня

Сегодня 28 октября, продолжит свою работу 12-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control, которая продлится по 29 октября, в Москве, в МВЦ «Крокус Экспо» (м. Мякинино), павильон № 1.

новость

Выставка Testing & Control открыта. Ключевые события 1 дня

Сегодня 27 октября, начинает свою работу 12-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control, которая продлится по 29 октября, в Москве, в МВЦ «Крокус Экспо» (м. Мякинино), павильон № 1.

новость

Возможности ИК-Фурье микроскопа BRUKER LUMOS в докладе специалиста ООО «Брукер»

Химический состав многокомпонентных полимерных систем (в том числе многослойных пленок) и включения в их структуре могут быть напрямую исследованы и проконтролированы с помощью инфракрасной микроскопии. Современное оборудование для ИК-микроскопии позволяет решать различные аналитические задачи быстро и эффективно.